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小断层影响因子分析方法及装置

摘要

本发明提供了一种小断层影响因子分析方法及装置,方法包括:获取用户输入的模型参数值集合、多个影响因子、多个目标层位属性,与每个影响因子对应的多个测试参数值;逐个利用影响因子所对应的测试参数值替换模型参数值集合中影响因子对应的模型参数值,每一次替换得到一个目标模型参数值集合;确定每个目标模型参数值集合对应的第一地球物理响应特征;利用属性特征提取公式,在第一地球物理响应特征中,分别提取与每个目标层位属性对应的第一目标层位属性值;根据提取的多个第一目标层位属性值,确定每个目标层位属性所对应的影响因子目标范围值,解决现有技术中的小断层识别精度低的问题,达到了提高小断层识别精度的技术效果。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-07

    授权

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  • 2018-12-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 1/30 申请日:20180628

    实质审查的生效

  • 2018-12-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 1/30 申请日:20180628

    实质审查的生效

  • 2018-11-16

    公开

    公开

  • 2018-11-16

    公开

    公开

  • 2018-11-16

    公开

    公开

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