半导体存贮器的老化起动电路及老化测试方法

摘要

一个半导体存储器的老化启动电路和老化测试方法。该老化测试模式依靠在半导体芯片多个管脚中的一个特定管脚上加载高于外部电源电压的高电压来进行。在该老化测试中，芯片中字线的复位操作被关闭，而高电压被依次加载到所有可访问的晶体管上。在这种情况下，一旦选通一字线，该字线便能持续保持此状态，同时所有字线也被置为逻辑“高”状态。这样，即可大大缩短老化时间并可获得一可靠的老化测试。