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一种用于荧光仪器校准测量的标准样片及其制备方法

摘要

本发明公开一种用于荧光仪器校准测量的标准样片,包括基板及荧光薄膜,该荧光薄膜设置于基板上且包括具有不同荧光强度的多个荧光强度区域,每个荧光强度区域具有特定的荧光染料填充占空比。本发明还公开一种用于荧光仪器校准测量的标准样片的制备方法。本发明的用于荧光仪器校准测量的标准样片及其制作方法,通过利用微纳加工技术,精确控制调整荧光薄膜表面上每个像素对应区域内的荧光染料填充占空比,在一个标准样片上获得多个厚度相同的荧光强度区域,且每个荧光强度区域具有精准可控的特定的荧光染料填充占空比,使获得复杂图案的小尺度图形成为可能。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-29

    授权

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  • 2017-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20170616

    实质审查的生效

  • 2017-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20170616

    实质审查的生效

  • 2017-10-20

    公开

    公开

  • 2017-10-20

    公开

    公开

  • 2017-10-20

    公开

    公开

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