首页> 中国专利> 一种同基质的“闪烁体-半导体-闪烁体”复合X射线探测器

一种同基质的“闪烁体-半导体-闪烁体”复合X射线探测器

摘要

本发明提供一种同基质的“闪烁体‑半导体‑闪烁体”复合X射线探测器,包括前闪烁体、半导体光电导探测器、后闪烁体。三者组成类似三明治结构,通过原子间吸引力结合,不需要耦合剂;前闪烁体、后闪烁体化学成分相同,厚度不同,通过对基质掺杂获得;半导体光电导探测器包括半导体基质、电极和引线;复合X射线探测器可以通过通用薄膜生长技术获得,生长过程中只需要调节掺杂浓度即可,将闪烁体、耦合剂、光电二极管或光电倍增管简三种材料化为一种材料,具有制作方法简单、制作原理单一、制作周期短、制作成本低等优势,同时,取消了耦合剂,闪烁体与光电导探测器通过原子间引力紧密结合,光损耗小,探测效率高。

著录项

  • 公开/公告号CN107015263B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-11-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东北大学;

    申请/专利号CN201710226565.5

  • 申请日2017-04-09

  • 分类号

  • 代理机构沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人俞鲁江

  • 地址 110819辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号

  • 入库时间 2022-08-23 10:43:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-15

    授权

    授权

  • 2017-08-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/24 申请日:20170409

    实质审查的生效

  • 2017-08-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/24 申请日:20170409

    实质审查的生效

  • 2017-08-04

    公开

    公开

  • 2017-08-04

    公开

    公开

  • 2017-08-04

    公开

    公开

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