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通用串行总线物理层收发器嵌入式自我测试的方法及装置

摘要

本发明提供一种通用串行总线物理层收发器进行嵌入式自我测试的方法和测试装置。所述方法包括:所述物理层收发器输出内部的数据采集时钟给所述测试向量产生单元;所述测试向量产生单元基于该采集时钟,产生测试向量;所述测试向量产生单元将测试向量输入物理层收发器。采用本发明,可以消除物理层收发器嵌入式自我测试中存在的异步时序问题,降低调试难度,物理层收发器嵌入式自我测试测试向量的复杂程度,提高覆盖率,能够减少物理层收发器嵌入式自我测试所占用的测试管脚,使得物理层收发器嵌入式自我测试能够和其他测试组合起来,减少测试时间。

著录项

  • 公开/公告号CN100366006C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-01-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京中星微电子有限公司;

    申请/专利号CN200510132774.0

  • 申请日2005-12-26

  • 分类号H04L12/26(20060101);

  • 代理机构11285 北京北翔知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈霁

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:02

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-02-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04L 12/26 授权公告日:20080130 终止日期:20111226 申请日:20051226

    专利权的终止

  • 2008-01-30

    授权

    授权

  • 2006-08-23

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-06-28

    公开

    公开

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