一种X荧光分析仪最优分析时间确定方法

摘要

本发明公开了一种X荧光分析仪最优分析时间确定方法，首先，依据X荧光分析仪激发以及标样的特性，选择合适的激发电压U和激发电流I。依据选择的激发条件，计算X荧光理论强度值。其次，以理论计算值为基础，在满足预设置的不确定度的条件下，计算理论最优分析时间。再次，进行实验分析，对激发条件进行反馈调整。最后结合在线分析结果与理论计算的最优分析时间，确定X荧光分析仪的最优分析时间。本发明的有益效果是可以规范测定时间，提高分析结果的准确性，减小分析结果的不确定度。