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一种激光辅助辐射温度测量装置及测量方法

摘要

本发明提供一种激光辅助辐射温度测量装置及测量方法,该装置包括:激光器,该激光器用于在被测物表面照射强度调制的激光;光学系统,该光学系统用于辐射信号的传输,以及确定辐射信号中任两个波长不同的辐射信号;以及电子信号检测系统,该电子信号检测系统接收通过光学系统传输而来的两个波长不同的辐射信号后转换成两个电子信号,并将两个电子信号分别分离出直流信号和交流信号并进行检测和比较。根据本发明,能够改善现有技术中存在的上述困难,被测物表面温度测量不受材料辐射率的影响,且对激光及信号波长的选择没有限制。

著录项

  • 公开/公告号CN108267240B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海硅酸盐研究所;

    申请/专利号CN201611257854.3

  • 发明设计人 张步法;倪亦萌;郑鸿涛;宋力昕;

    申请日2016-12-30

  • 分类号

  • 代理机构上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人姚佳雯

  • 地址 200050 上海市长宁区定西路1295号

  • 入库时间 2022-08-23 10:41:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-15

    授权

    授权

  • 2018-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 11/00 申请日:20161230

    实质审查的生效

  • 2018-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 11/00 申请日:20161230

    实质审查的生效

  • 2018-07-10

    公开

    公开

  • 2018-07-10

    公开

    公开

  • 2018-07-10

    公开

    公开

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