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用定量超声参数映射的一阶和二阶统计来分类和表征组织的系统和方法

摘要

用定量超声技术来分类组织的系统和方法。从在超声扫描期间从感兴趣区域中获取的原始回波信号数据中直接计算参数并且使用这些参数来产生参数映射。在使用参考数据归一化该回波信号数据之后计算这些参数以减少仪器设置中的变化、超声波束衍射和衰减效应的影响。一阶和二阶统计度量是从这些参数映射中计算出的,并且被用于分类感兴趣区域中的组织或多种组织。使用这些系统和方法,可以利用不同的分类等级来分类组织。例如,表征为恶性癌的组织可被附加地分级(例如,等级I,II或III)。

著录项

  • 公开/公告号CN105377145B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 森尼布鲁克研究所;

    申请/专利号CN201480029807.6

  • 申请日2014-05-23

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人侯颖媖

  • 地址 加拿大安大略省

  • 入库时间 2022-08-23 10:41:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-18

    授权

    授权

  • 2016-06-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B8/08 申请日:20140523

    实质审查的生效

  • 2016-06-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 8/08 申请日:20140523

    实质审查的生效

  • 2016-03-02

    公开

    公开

  • 2016-03-02

    公开

    公开

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