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一种基于SEM的碳纳米管自动识别的图像处理方法

摘要

本发明提供了一种基于SEM(扫描电子显微镜)的碳纳米管自动识别的图像处理方法。该方法在SEM得到探针(1)和CNT(2)的图像后,对图像进行灰度化、颜色归一化、轮廓梯度计算、极值点提取,以及优化处理五个图像处理步骤,从而能够从基底(3)边缘所有识别的CNT中筛选出一根或几根长且直、杂质少的目标CNT。本发明所提出的图像处理方法具有鲁棒性强,环境适应能力强,且算法结构简单,计算快等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN106056123B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201610366152.2

  • 申请日2016-05-27

  • 分类号G06K9/46(20060101);G06K9/60(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学

  • 入库时间 2022-08-23 10:41:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-15

    授权

    授权

  • 2016-12-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/46 申请日:20160527

    实质审查的生效

  • 2016-12-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/46 申请日:20160527

    实质审查的生效

  • 2016-10-26

    公开

    公开

  • 2016-10-26

    公开

    公开

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