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一种通用的三维欠采样轨迹设计方法

摘要

本发明涉及磁共振成像,更具体地涉及一种通用的三维欠采样轨迹设计方法。提供了一种通用的三维欠采样轨迹设计方法,所述方法包括以下步骤:i)生成径向或螺旋轨迹线;ii)网格化轨迹空间;iii)从n=1开始,依次将轨迹线上的轨迹点映射到笛卡尔网格点上;以及iv)重复步骤iii)直到所有轨迹点映射到笛卡尔网格点上。所述方法可以灵活地根据重建算法、成像序列以及图像对比的要求,直接计算出K空间的填充顺序,并用于序列设计。同时,所述方法满足重建算法的要求,能通过CS和PI联合算法、半傅立叶重建算法等重建图像。本发明提出的方法可以提高成像质量,可用于医学成像等。

著录项

  • 公开/公告号CN107219481B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳先进技术研究院;

    申请/专利号CN201710383120.8

  • 申请日2017-05-26

  • 分类号

  • 代理机构北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人胡彬

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号

  • 入库时间 2022-08-23 10:40:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-27

    授权

    授权

  • 2017-10-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/48 申请日:20170526

    实质审查的生效

  • 2017-10-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/48 申请日:20170526

    实质审查的生效

  • 2017-09-29

    公开

    公开

  • 2017-09-29

    公开

    公开

  • 2017-09-29

    公开

    公开

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