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一种测量纳米颗粒物化学组分的气溶胶质谱仪

摘要

本发明公开了一种测量纳米颗粒物化学组分的气溶胶质谱系统,其包括纳米扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪、第一差分室、第二差分室、光电离室以及反射式飞行时间质谱装置,其中,所述纳米扫描电迁移率颗粒物粒径谱仪的气溶胶出口与所述第一差分室进口连接,所述第一差分室的出口与所述第二差分室进口连接,所述第二差分室的出口与所述光电离室的进口连接,所述光电离室出口与所述反射式飞行时间质谱装置连接。本发明的气溶胶质谱系统通过纳米扫描式电迁移率粒径谱仪实现对纳米颗粒物的荷电、粒径选择和粒谱分析,用于实时、在线测量获得粒径小于60nm纳米颗粒物的化学组分信息。检测过程简单、实现了纳米颗粒物的快速和高效率传输。

著录项

  • 公开/公告号CN107946165B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院合肥物质科学研究院;

    申请/专利号CN201711227421.8

  • 申请日2017-11-29

  • 分类号H01J49/00(20060101);H01J49/04(20060101);B82Y35/00(20110101);

  • 代理机构11577 北京知呱呱知识产权代理有限公司;

  • 代理人李芙蓉;冯建基

  • 地址 230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号

  • 入库时间 2022-08-23 10:40:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-24

    授权

    授权

  • 2018-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J49/00 申请日:20171129

    实质审查的生效

  • 2018-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 49/00 申请日:20171129

    实质审查的生效

  • 2018-04-20

    公开

    公开

  • 2018-04-20

    公开

    公开

  • 2018-04-20

    公开

    公开

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