首页> 中国专利> 基于横向错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法及装置

基于横向错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于横向错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法及装置。该方法包括:以本发明提出的新型横向错位吸收光栅布置Talbot‑Lau成像结构;以上述结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像;以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像。相较于传统方法,本发明实施例不需要移动光栅,一次曝光即可获得三种衬度图像,大幅减小了成像时间,降低了成像剂量,提高了系统成像效率和稳定性。

著录项

  • 公开/公告号CN107144581B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201710311854.5

  • 发明设计人 傅健;王景正;

    申请日2017-05-05

  • 分类号G01N23/041(20180101);G01N23/083(20180101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明;顾炜

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 10:40:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-27

    授权

    授权

  • 2017-10-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20170505

    实质审查的生效

  • 2017-10-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/04 申请日:20170505

    实质审查的生效

  • 2017-09-08

    公开

    公开

  • 2017-09-08

    公开

    公开

  • 2017-09-08

    公开

    公开

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