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一种光学系统像面离焦量的检测方法

摘要

本发明实施例公开了一种光学系统像面离焦量的检测方法。本发明实施例中所提供的光学系统像面离焦量的检测方法,在干涉仪与光学系统齐焦光路的基础上,通过调整干涉仪使得其出射波前焦点不仅能准确落在光学系统像面的位置上,同时干涉仪出射波前会聚光和返回会聚光的主光线方向重合,从而拓展激光干涉仪的现有功能,能够准确的实现对光学系统像面离焦量的检测。进一步地,通过检测获得的离焦量可以评价光学系统的成像像质,从而提高光学系统装调效率和改善成像质量。

著录项

  • 公开/公告号CN108426699B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810084090.5

  • 发明设计人 马宏财;苏东奇;胡春晖;张冬旭;

    申请日2018-01-29

  • 分类号G01M11/00(20060101);

  • 代理机构44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人赵勍毅

  • 地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

  • 入库时间 2022-08-23 10:40:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-10

    授权

    授权

  • 2018-09-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/00 申请日:20180129

    实质审查的生效

  • 2018-09-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/00 申请日:20180129

    实质审查的生效

  • 2018-08-21

    公开

    公开

  • 2018-08-21

    公开

    公开

  • 2018-08-21

    公开

    公开

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