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用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法

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本发明涉及一种用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法，所述方法包括以下步骤：在光源和所述光学组件之间的光路中设置模式群分离光纤；以及按所述模式群分离光纤的纤芯中心和纤芯半径之间的离散间隔，将波长为λt的光的基准脉冲从所述光源经由所述模式群分离光纤注入到所述光学组件中。所述模式群分离光纤是具有α分布渐变折射率纤芯的多模光纤，其中α值被选择成使得所述模式群分离光纤在波长λt处满足以下标准：公式(I)

著录项

公开/公告号CN106461860B

专利类型发明专利
公开/公告日2019-09-17

原文格式PDF
申请/专利权人德拉克通信科技公司;
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申请/专利号CN201480080021.7
发明设计人 F·J·阿赫滕;D·莫林;P·斯拉德;M·比戈-阿斯楚克;
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申请日2014-06-17
分类号
代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人刘新宇
地址荷兰阿姆斯特丹
入库时间 2022-08-23 10:40:01

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-09-17

授权

授权
2017-03-29

实质审查的生效 IPC(主分类):G02B6/028 申请日:20140617

实质审查的生效
2017-03-29

实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 6/028 申请日:20140617

实质审查的生效
2017-02-22

公开

公开
2017-02-22

公开

公开

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1. 用于表征穿过光学组件的多模光的模式群特性的方法 [P] . 中国专利： CN106461860B . 2019.09.17
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