首页> 中国专利> 单晶金刚石表面原位n型半导体化全碳结构的制备方法

单晶金刚石表面原位n型半导体化全碳结构的制备方法

摘要

一种单晶金刚石表面原位n型半导体化全碳结构的制备方法,属于半导体基础电路用基体材料制备领域。工艺步骤为:a.利用机械抛光将单晶金刚石抛光至表面粗糙度低于1nm;b.酸洗并采用H2等离子体原位刻蚀,使籽晶表面形成微观形核点;c.将单晶金刚石基底置于钼托微槽内,样品表面至槽高度与样品和微槽间隙比例保持在0.5‑0.7之间;d.以单晶金刚石为籽晶,通过控制沉积工艺抑制含碳基团的空间传输与表面扩散,在单晶金刚石表面sp3结构下抑制抽取反应,依赖单晶金刚石的台阶与缺陷区,实现超纳米金刚石形核与生长;同时掺氮实现超纳米金刚石的n型掺杂,最终在未改变单晶金刚石籽晶原始条件下实现表面原位n型导电超纳米金刚石薄层的制备,形成一种全碳结构的金刚石半导体。

著录项

  • 公开/公告号CN107419329B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京科技大学;

    申请/专利号CN201710363710.4

  • 申请日2017-05-22

  • 分类号C30B25/20(20060101);C30B29/04(20060101);

  • 代理机构11237 北京市广友专利事务所有限责任公司;

  • 代理人张仲波

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路30号

  • 入库时间 2022-08-23 10:38:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-27

    授权

    授权

  • 2017-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B25/20 申请日:20170522

    实质审查的生效

  • 2017-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B 25/20 申请日:20170522

    实质审查的生效

  • 2017-12-01

    公开

    公开

  • 2017-12-01

    公开

    公开

  • 2017-12-01

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号