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一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法

摘要

本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法,具体按照以下步骤实施:步骤1:通过螺丝施加应力于光学平板玻璃,并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力,记录下应力的大小;步骤2:保持步骤1中的应力不变,通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q,然后计算出黑斑的半径r;步骤3:通过螺丝改变应力的值,重复步骤1和步骤2,得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r;步骤4:计算光学平板玻璃的体积模量K。本发明测量方法简单,且测量周期相比传统缩短,测量应用范围扩大,没有大量的材料耗损,测量性重复好,且可用于测量小样品光学平板玻璃。

著录项

  • 公开/公告号CN106596265B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安科技大学;

    申请/专利号CN201611148051.4

  • 发明设计人 郭长立;冯小强;韩湖斌;

    申请日2016-12-13

  • 分类号G01N3/08(20060101);G01N3/06(20060101);

  • 代理机构61214 西安弘理专利事务所;

  • 代理人成丹

  • 地址 710054 陕西省西安市雁塔区雁塔中路58号

  • 入库时间 2022-08-23 10:37:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-30

    授权

    授权

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N3/08 申请日:20161213

    实质审查的生效

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 3/08 申请日:20161213

    实质审查的生效

  • 2017-04-26

    公开

    公开

  • 2017-04-26

    公开

    公开

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