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一种赋形双反射面天线最佳吻合赋形面参数的计算方法

摘要

本发明涉及一种赋形双反射面天线最佳吻合赋形面参数的计算方法,该方法将赋形双反射面天线的馈源‑副面‑主面匹配系统拆分成馈源‑副面‑“焦线”和主面‑“焦线”两个系统,它们通过“焦线”匹配实现与原赋形双反射面匹配系统的等效,使得对于仅讨论主面实际形面误差的问题简化为在主面‑“焦线”系统内讨论,既简化了分析过程,几何意义极易理解;又使得问题研究的对象更有针对性。该方法将赋形反射面最佳吻合赋形面的参数以简单清晰的思路求解出来,可通过最佳吻合参数计算出实际赋形反射面的基准面,为大型赋形双反射面天线的面型精度描述、结构保型设计、副面位姿调整和主动面调整提供了参考基准,具有较高的实际应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN105930570B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201610236745.7

  • 申请日2016-04-15

  • 分类号G06F17/50(20060101);

  • 代理机构61108 西安吉盛专利代理有限责任公司;

  • 代理人何锐

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学

  • 入库时间 2022-08-23 10:37:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-02

    授权

    授权

  • 2016-10-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20160415

    实质审查的生效

  • 2016-10-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20160415

    实质审查的生效

  • 2016-09-07

    公开

    公开

  • 2016-09-07

    公开

    公开

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