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光热差分显微成像装置及单个粒子成像方法

摘要

本发明公开了一种光热差分显微成像装置及单个粒子成像方法。所述装置包括用于光学成像的照明系统,用于提取金属颗粒周围热吸收信息的泵浦‑探测双光束微弱信号探测系统,以及对样品作二维扫描的平面扫描系统,其中,光学成像照明系统用来寻找样品标记物所在的位置,泵浦‑探测双光束微弱信号探测系统利用探测光束将样品周围的热辐射微弱信号提取出来,平面扫描系统实现对样品的二维扫描,通过计算机处理将提取的微弱热信号作二维强度分布图,实现对单个粒子的光热差分显微成像。

著录项

  • 公开/公告号CN107084917B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN201710216916.4

  • 发明设计人 方哲宇;李博文;朱星;祖帅;蒋瞧;

    申请日2017-04-05

  • 分类号

  • 代理机构北京万象新悦知识产权代理有限公司;

  • 代理人李稚婷

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2022-08-23 10:37:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-19

    授权

    授权

  • 2017-09-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/10 申请日:20170405

    实质审查的生效

  • 2017-09-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/10 申请日:20170405

    实质审查的生效

  • 2017-08-22

    公开

    公开

  • 2017-08-22

    公开

    公开

  • 2017-08-22

    公开

    公开

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