机译:包括低温电子显微镜样品架的工作台,用于光显微镜和电子显微镜的相关成像检测,包括相同的相关成像检测装置,以及使用相同方法的成像检测方法和成像系统
公开/公告号WO2016021745A1
专利类型
公开/公告日2016-02-11
原文格式PDF
申请/专利权人 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE;
申请/专利号WO2014KR07230
申请日2014-08-05
分类号G01N1/28;G01N1/42;G02B21/28;G02B21/34;H01J37/26;G01N23/04;
国家 WO
入库时间 2022-08-21 14:19:02