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一种室温高灵敏硅基光电导太赫兹检测器及其制备方法

摘要

本发明公开了一种室温高灵敏硅基光电导太赫兹检测器及其制备方法,其检测器以硅基SOI(Silicon On Insulator)基片作为衬底,所述衬底上反应离子刻蚀(Reactive Ion Etching‑RIE)硅探测微桥,所述硅探测微桥两端连接金薄膜电极。本发明还公开了制备所述检测器的方法。本发明的检测器工作于室温,具有高灵敏度,快响应时间,制备简单,便于做成大规模阵列芯片的特点,使其在太赫兹材料检测、太赫兹成像等方面具有广泛的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN108281504B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华东师范大学;

    申请/专利号CN201810014353.5

  • 申请日2018-01-08

  • 分类号

  • 代理机构上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人徐筱梅

  • 地址 200241 上海市闵行区东川路500号

  • 入库时间 2022-08-23 10:35:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-05

    授权

    授权

  • 2018-08-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/08 申请日:20180108

    实质审查的生效

  • 2018-08-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/08 申请日:20180108

    实质审查的生效

  • 2018-07-13

    公开

    公开

  • 2018-07-13

    公开

    公开

  • 2018-07-13

    公开

    公开

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