用于超大规模芯片验证的回归测试用例维护方法及系统

摘要

本申请提供了一种用于超大规模芯片验证的回归测试用例维护方法，确定与目标超大规模芯片的功能相对应的覆盖率目标；根据所述覆盖率目标，构造测试激励组；利用所述测试激励组进行验证，统计覆盖率，并将所述测试激励组保存在测试用例集合中；判断统计的覆盖率是否达到所述覆盖率目标，若是，则判断是否需要回归测试，若是，则对所述测试用例集合进行优化，去除冗余的测试用例；利用优化后的测试用例集合进行验证，统计并保存优化后的覆盖率。本申请基于覆盖率的方法，对测试用例集合进行了优化处理，然后利用优化后的测试用例集合进行验证，提高了回归测试的效率，在保证了回归测试有效性的同时，节省了保存激励和运行仿真的资源和时间。