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一种绝缘体上半导体材料衬底结构及其制备方法

摘要

本发明提供一种绝缘体上半导体材料衬底结构及其制备方法,该绝缘体上半导体材料衬底结构包括单晶硅衬底、绝缘体层、缓冲层和高迁移率半导体层,所述绝缘体层置于所述单晶硅衬底之上,所述缓冲层置于所述单晶硅衬底之上并置于所述绝缘体层之间,所述高迁移率半导体层置于所述绝缘体层和所述缓冲层之上。该绝缘体上半导体材料衬底结构的制备方法采用金属有机化学气相沉积法或分子束外延的方法,在硅衬底上实现绝缘体上高迁移率半导体材料的外延生长,在后摩尔时代高迁移率CMOS集成技术中具有重要的应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN106531683B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN201611243728.2

  • 申请日2016-12-29

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 10:34:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-31

    授权

    授权

  • 2017-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/762 申请日:20161229

    实质审查的生效

  • 2017-04-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/762 申请日:20161229

    实质审查的生效

  • 2017-03-22

    公开

    公开

  • 2017-03-22

    公开

    公开

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