一种针对傅立叶叠层显微成像技术的位置校正方法

摘要

本发明公开了一种针对傅立叶叠层显微成像技术的位置校正方法，首先摄一组低分辨率图像，对物体的高分辨率频谱进行初始化，并初始化迭代次数j＝1；计算第j次迭代的更新范围S_j；对更新范围S_j内的所有图像进行更新，更新前利用模拟退火法校正每幅图像对应的频谱孔径位置；第j次迭代完成后，利用非线性回归法更新LED阵列的位置参数，重新对物体的高分辨率频谱进行初始化；j＝j+1，若更新范围S_j不包含所有图像，回到迭代步骤，当更新范围S_j包含所有图像以后，执行下一步；继续迭代至少3次，每次迭代完不进行频谱初始化，最终获得物体的高分辨率光强和相位图。本发明避免了LED阵列定位误差对重构结果的影响，提高了傅立叶叠层显微成像技术重构的图像质量。