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一种基于全反射的显微物镜数值孔径测量方法及系统

摘要

一种基于全反射的显微物镜数值孔径测量方法及系统,涉及光学领域,尤其涉及测量液浸及固浸显微物镜数值孔径。它为了解决目前测量液浸及固浸显微物镜数值孔径操作繁琐,测量准确度不够高等问题。所述方法包括:光束从液浸或固浸显微物镜入射后聚焦在标准样片上,反射光在后焦面上形成带有全反射吸收弧的图谱,全反射吸收弧为圆形。通过计算图谱上全反射吸收弧的位置及半径,可测量出液浸或固浸显微物镜的数值孔径。所述装置使用照明光源发出光束,通过液浸或固浸显微物镜聚焦在标准样片上,反射光经过显微物镜出射,在探测器上成像,获得后焦面的像。本发明通过图像探测和识别,能够实现液浸或固浸显微物镜数值孔径的高精度测量。

著录项

  • 公开/公告号CN106802232B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201710156194.8

  • 发明设计人 张蓓;刘雨;张承乾;闫鹏;

    申请日2017-03-16

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 10:31:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-30

    授权

    授权

  • 2017-08-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20170316

    实质审查的生效

  • 2017-08-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20170316

    实质审查的生效

  • 2017-06-06

    公开

    公开

  • 2017-06-06

    公开

    公开

  • 2017-06-06

    公开

    公开

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