一种在非完全约束系统中投影非均匀条纹的三维测量方法

摘要

本发明公开了一种在非完全约束系统中投影非均匀条纹的三维测量方法。该方法利用计算机得到多幅相移余弦条纹图像与辅助图像，利用投影仪分别向参考平面、待测物和不同高度的平面投影这些条纹图像，相机同步拍摄参考平面、待测物和不同高度的平面上的变形条纹图像与辅助图像，由计算机得到相移条纹的截断相位并进行相位展开，最后得到物体三维形貌数据。该方法利用连续绝对相位直接求取物体高度，无需求取相位差，提高测量效率的同时减小求取相位差时引入的误差。该方法采用非完全约束系统，对测量系统的安装无严格约束要求，解除了相机光心和投影仪光心连线平行于参考平面的约束，解除了相机光轴和投影仪光轴在参考平面上相交于一点的约束。