首页> 中国专利> 一种基于双窗口共路干涉成像的偏振态参量测量装置与方法

一种基于双窗口共路干涉成像的偏振态参量测量装置与方法

摘要

本发明提供一种基于双窗口共路干涉成像的偏振态参量测量装置与方法,属于偏振态参量测量领域。本发明包括光源、偏振调制系统、准直扩束系统、待测物体、矩形窗口、第一透镜、一维周期光栅、第二透镜、光阑、偏振片组、图像传感器和计算机。入射光被线偏振调制后依次经过准直扩束系统、待测物体、矩形窗口、第一透镜、一维周期光栅和第二透镜后产生0级和±1级衍射光束,再经光阑和偏振片后,在图像传感器平面上产生干涉;分别曝光采集+45°和‑45°线偏振光入射时的全息图,通过计算机获得Stokes矩阵参量和Jones矩阵参量。本发明装置无需二维光栅、空间滤波器阵列等特殊光学元件,结构简单,调整方便,且抗干扰能力强。

著录项

  • 公开/公告号CN107228712B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工程大学;

    申请/专利号CN201710437630.9

  • 申请日2017-06-12

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室

  • 入库时间 2022-08-23 10:30:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-12

    授权

    授权

  • 2017-11-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J4/00 申请日:20170612

    实质审查的生效

  • 2017-11-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 4/00 申请日:20170612

    实质审查的生效

  • 2017-10-03

    公开

    公开

  • 2017-10-03

    公开

    公开

  • 2017-10-03

    公开

    公开

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