运用高速CMOS成像的断路器测试系统的多目标追踪方法

摘要

本发明公开了一种运用高速CMOS成像的断路器测试系统的多目标追踪方法，该系统包括高速CMOS成像装置，断路器触头，触头传动杆，多目标条纹测试标签和数据处理装置，触头传动杆与断路器触头连接，标定用的多目标条纹测试标签粘贴在触头传动杆的外露部分上，高速CMOS成像装置用于拍摄触头传动杆的高速运动图像，图像处理装置用于处理拍摄到的高速运动图像，并进行图像识别、分析和数据处理，并进行速度及行程的测试，同时显示最终的测试结果。与现有方法相比，由于使用了多目标条纹测试标签标定运动目标，可以自动追踪递补条纹获得断路器触头的运动位移信息，因此对断路器动触头的行程及速度测量快速、准确，适应测试对象多样。