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基于双光子图像的突触检测方法

摘要

本发明公开了一种基于双光子图像的突触检测方法,其涉及模式识别和神经学技术领域。其中,该方法包括获取所述双光子图像;将所述双光子图像分为轴突图像和树突图像;在所述轴突图像中进行轴突小结的2D检测;在所述树突图像中进行树突棘的2D检测;用检测到的轴突小结和树突棘进行2D突触检测;基于2D突触检测结果,进行3D突触检测。通过本发明,提高了检测突触的效率和精度,还具有普适性,且对图像类型不敏感。

著录项

  • 公开/公告号CN106373116B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院自动化研究所;

    申请/专利号CN201610716189.3

  • 申请日2016-08-24

  • 分类号

  • 代理机构北京瀚仁知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宋宝库

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村东路95号

  • 入库时间 2022-08-23 10:30:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-12

    授权

    授权

  • 2017-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20160824

    实质审查的生效

  • 2017-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20160824

    实质审查的生效

  • 2017-02-01

    公开

    公开

  • 2017-02-01

    公开

    公开

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