微处理器单粒子翻转截面的测试方法

摘要

本发明针对现有微处理器单粒子翻转截面测试方法不能全面、准确地反映微处理器对单粒子翻转效应敏感程度的问题，提出一种微处理器单粒子翻转截面的测试方法，包括如下步骤：1.构建单粒子翻转测试系统；2.设计指令集遍历程序、内部存储器循环遍历程序和数据搬移程序；3.测试被测微处理器运行指令集遍历程序时的单粒子翻转截面C1；4.测试被测微处理器运行内部存储器循环遍历程序时的单粒子翻转截面C2；5.测试被测微处理器运行数据搬移程序时的单粒子翻转截面C3；6.计算被测微处理器整体的单粒子翻转截面C＝C1+C2+C3。本发明能够全面、准确地反映被测微处理器正常工作时对单粒子翻转效应的敏感程度，提高微处理器单粒子翻转效应测试的精确度。