测试、验证和调试架构

摘要

本文描述了用于提供测试、验证和调试架构的装置和方法。在目标级或基础级，硬件钩子(用于测试的设计或DFx)被设计到硅部件中并与之集成。控制器可提供对此类钩子的抽象访问，例如通过对硬件DFx的低级细节进行抽象的抽象层。此外，抽象层通过接口(例如API)向更高级软件/表示层提供服务、例程和数据结构，而更高级软件/表示层能够收集测试数据以用于验证和调试测试中单元/平台。此外，该架构可能提供对测试架构的层级式(多个级的)安全访问。另外，通过使用统一双向的测试访问端口，可以为平台简化对测试架构的物理访问，同时还可能准许远程访问，以执行测试中部分/平台的远程测试和调试。基本上，本文描述了用于电子部分、设备和平台的测试、验证和调试的完整测试架构堆栈。