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硫系相变材料化学机械抛光的无磨料抛光液及其应用

摘要

本发明涉及一种用于硫系化合物相变薄膜材料GeSbTe化学机械抛光(CMP)的无磨料抛光液及该化学机械抛光液在制备纳电子器件相变存储器中的应用。该CMP无磨料抛光液包含有氧化剂、螯合剂、pH调节剂、抗蚀剂、表面活性剂、消泡剂、杀菌剂及溶剂等。该抛光液损伤少、易清洗、不腐蚀设备、不污染环境,主要用于制造相变存储器关键材料GexSbyTe(1-x-y)的CMP。利用上述抛光液采用化学机械抛光方法去除多余的相变薄膜材料GexSbyTe(1-x-y),(0≤x≤0.5,0≤y≤1.0,且x、y不同时为0)制备纳电子器件相变存储器,方法简单易行。

著录项

  • 公开/公告号CN100335581C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-09-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200410084490.4

  • 发明设计人 张楷亮;宋志棠;封松林;陈邦明;

    申请日2004-11-24

  • 分类号C09G1/18(20060101);

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人潘振甦

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-06-20

    专利权的转移 IPC(主分类):C09G 1/18 变更前: 变更后: 登记生效日:20120514 申请日:20041124

    专利申请权、专利权的转移

  • 2007-09-05

    授权

    授权

  • 2005-08-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-06-29

    公开

    公开

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