首页> 中国专利> 差分电容位移量的转换和细分方法及电容型线性位移测量系统

差分电容位移量的转换和细分方法及电容型线性位移测量系统

摘要

本发明是差分电容位移量的转换和细分方法及电容型线性位移测量系统。1.用差分电容位移量的转换基准求解位移量,无需调制、解调、放大器、A/D等,测量和细分简便精确;2.把差分电容变化量转换为脉冲宽度量,其电路无需调零,无噪声、无寄生和零漂等干扰,量程不限,它只与串接电阻有关;3.用上说方法和电路提出一种电容型线性位移测量系统,它是大量程的绝对位置测量,传感器和电路都简单的全数字型、精度高、稳定性好,能在水、油、灰尘污染等恶劣环境中使用,优于光栅和球栅等;4.把传感器、电路、和显示件等集成一体的微型(MEMS)器件,精度是纳米级,能精确测量MEMS的机械位置、位移、速度、振幅和頻率等运动参数,参数变换是遥控。

著录项

  • 公开/公告号CN103868442B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 王祖斌;

    申请/专利号CN201210538940.7

  • 发明设计人 王祖斌;

    申请日2012-12-12

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 241000 安徽省芜湖市长江路滨江山庄57幢1单元601室

  • 入库时间 2022-08-23 10:28:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-29

    授权

    授权

  • 2015-09-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B7/02 申请日:20121212

    实质审查的生效

  • 2015-09-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 7/02 申请日:20121212

    实质审查的生效

  • 2014-06-18

    公开

    公开

  • 2014-06-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号