首页> 中国专利> 垂直对齐的GaAs半导体纳米线阵列的大面积制造方法

垂直对齐的GaAs半导体纳米线阵列的大面积制造方法

摘要

本发明涉及一种自下而上型的制造GaAs半导体纳米线的方法,尤其是涉及一种通过使用金属薄膜从外部施加电压或电流大面积制造垂直对齐的GaAs半导体纳米线阵列的方法,其通过大面积制造网格型金属薄膜的经济性方法将制成的金属薄膜作为阳极(anode),这样孔(h

著录项

  • 公开/公告号CN106794985B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 韩国标准科学研究院;

    申请/专利号CN201480079794.3

  • 发明设计人 李雨;申正镐;

    申请日2014-06-25

  • 分类号

  • 代理机构上海弼兴律师事务所;

  • 代理人薛琦

  • 地址 韩国大田广域市

  • 入库时间 2022-08-23 10:27:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-12

    授权

    授权

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):B82B3/00 申请日:20140625

    实质审查的生效

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):B82B 3/00 申请日:20140625

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

  • 2017-05-31

    公开

    公开

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