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用于正电子湮没寿命谱测量的方法、系统以及闪烁探测器

摘要

本申请公开一种用于正电子湮没寿命谱测量的方法、系统以及闪烁探测器。用于正电子湮没寿命谱测量的方法包括:正电子脉冲束团到达所述待测样品的时刻记录为第一时间;通过位置将所述正电子脉冲束团在所述待测样品中湮没产生的多个伽马光子信号区分开,并收集所述多个伽马光子信号,将收集到所述多个伽马光子信号的时刻记录为多个第二时间;对所述多个第二时间进行处理,得到多个第一时间差;以及对所述多个第一时间差进行统计,得到正电子湮没寿命谱。本申请的方法,能够同时测量多个正电子湮没产生的伽马光子的时间分布,提高测量效率。

著录项

  • 公开/公告号CN106371132B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院高能物理研究所;

    申请/专利号CN201610847307.4

  • 申请日2016-09-23

  • 分类号G01T1/36(20060101);G01N23/22(20180101);

  • 代理机构11438 北京律智知识产权代理有限公司;

  • 代理人姜怡;袁礼君

  • 地址 100049 北京市石景山区玉泉路19号乙院

  • 入库时间 2022-08-23 10:27:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-15

    授权

    授权

  • 2017-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/36 申请日:20160923

    实质审查的生效

  • 2017-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/36 申请日:20160923

    实质审查的生效

  • 2017-02-01

    公开

    公开

  • 2017-02-01

    公开

    公开

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