相控阵天线远场方向图测量方法

摘要

本发明提供了一种相控阵天线远场方向图测量方法，通过对相控阵天线各阵元进行移相量补偿，在有限距离内实现对相控阵天线远场方向图的测量。该方法包括：选取一个具备转台的微波暗室，将待测相控阵天线架装在转台上并使待测的相控阵天线与测试系统天线保持预定距离；测量并计算待测相控阵天线的各阵元与测试系统天线之间的几何关系；根据几何关系，对待测相控阵天线的各阵元进行移相补偿；通过转台使待测相控阵天线转动，执行待测相控阵天线的远场方向图的测量。因此，采用本发明，可以在不具备近场扫描系统、紧缩场或远场等条件时，通过对相控阵天线的各阵元进行移相量补偿，在有限距离内实现对相控阵天线远场方向图的测量。