用于测量试样的偏振光学性质的光学测量系统

摘要

本发明记载了一种用于测量试样的偏振光学性质的光学测量系统(100‑600，800)，其具有：(a)光源(130)，该光源用于沿着光学测量系统(100‑600，800)的分析光路(130a)的光学轴发出测量光(130a)，(b)偏振状态发生器(PSG)，该发生器在光源(130)下游布置于分析光路(130a)中并且被配置为为测量光(130a)提供限定的偏振状态，(c)试样容器(150)，该试样容器在偏振状态发生器(PSG)下游布置在分析光路(130a)中并且为接纳待测试样而形成，(d)偏振状态分析器(PSA)，该分析器在试样容器(PSA)下游布置在分析光路(130a)中并被配置为测量穿过试样后测量光(130a)的偏振状态，以及(e)机械支架结构(120，220，520a‑c，620a‑b，820)，在该支架结构上至少直接安置偏振状态发生器(PSG)、试样容器(150)以及偏振状态分析器(PSA)。还记载了用于制造这种光学测量系统(100‑600，800)的方法。