一种自动测量嵌入式存储器最大工作频率的系统及方法

摘要

本发明公开了一种自动测量嵌入式存储器最大工作频率的系统及方法，该系统除了一个外设的测试机台和若干个置于芯片上的嵌入式存储器，还包括同样位于所述芯片上的锁相环、加法器（或减法器）、状态机、参考数据产生器和数据比较器等5个模块。本发明通过内建自动化测试系统，将嵌入式存储器的工作时钟频率的的调节功能置于芯片内部而不是通过测试机台来完成，由于内建锁相环输出的时钟稳定且不受芯片IO最大工作频率的限制，所以本发明可以真正测到嵌入式存储器得最大工作频率，因而可以在较短的时间里将芯片内部某个或者某几个嵌入式存储器工作的最低电源电压测量出来，这大大减少了测量嵌入式存储器最大的工作频率的时间，提升了测试效率。