首页> 中国专利> 磁共振成像系统的磁场不均匀性值获取方法和装置和失真校正方法和装置

磁共振成像系统的磁场不均匀性值获取方法和装置和失真校正方法和装置

摘要

本发明公开了一种磁共振成像系统的磁场不均匀性值获取方法和失真校正方法。所述磁场不均匀性值获取方法,包括如下步骤:为了将磁共振成像系统的原始磁场均匀化为一目标磁场,针对磁共振成像系统通过动态匀场方法提供一磁场补偿量,其中动态匀场方法包括进行一三维低分辨率双回波梯度回波序列;利用一第三通式获取磁场不均匀性值,第三通式是:ΔB=ΔBoriginal+ΔBcompensatins其中,ΔB是磁场不均匀性值,ΔBariginal是原始磁场与目标磁场之间的差值,ΔBcompensating是磁场补偿量。根据本发明的具体实施例的磁共振成像系统的磁场不均匀性值方法节省了大量用于再次映射磁场的时间,进而缩短了磁共振成像的时间,提高了磁共振成像的效率,所以这项技术对于医院大量繁重的扫描工作而言非常宝贵。

著录项

  • 公开/公告号CN105676155B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子(深圳)磁共振有限公司;

    申请/专利号CN201410663071.X

  • 发明设计人 周堃;刘薇;

    申请日2014-11-19

  • 分类号G01R33/38(20060101);G01R33/565(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 518057 广东省深圳市高新区中区高新中二道西门子磁共振园

  • 入库时间 2022-08-23 10:26:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-22

    授权

    授权

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/38 申请日:20141119

    实质审查的生效

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 33/38 申请日:20141119

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

    公开

  • 2016-06-15

    公开

    公开

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