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一种现场残缺线性痕迹特征重合度比对方法

摘要

本发明涉及一种现场残缺线性痕迹特征重合度比对方法,属于刑侦科学技术领域。本发明首先利用线性痕迹激光检测试验台装置的激光位移传感器检测承痕体上的残缺线性痕迹表面,获得离散化的信号数据,随后通过利用小波变换将需要进行降噪的数据进行分解并选定一个阈值进行降噪,去除肉眼可见的“毛刺”完成对数据的降噪处理,接着利用梯度特征识别法对痕迹信号按固定规划进行分箱处理描述痕迹特征,然后通过计算痕迹信号与样本信号二者重合的面积和二者全部覆盖的面积比值,最终通过比值作为重合度比对的结果,进而搜索到与待检测线性痕迹最为相似的线性痕迹样本,锁定作案工具。

著录项

  • 公开/公告号CN105674887B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 昆明理工大学;

    申请/专利号CN201610033607.9

  • 发明设计人 潘楠;杨敬树;羿泽光;

    申请日2016-01-19

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 650093 云南省昆明市五华区学府路253号

  • 入库时间 2022-08-23 10:24:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-05

    授权

    授权

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20160119

    实质审查的生效

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20160119

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

    公开

  • 2016-06-15

    公开

    公开

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