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基于投影云纹方法的离面位移测量系统及方法

摘要

一种基于投影云纹方法的离面位移测量系统及方法,通过光源发出的光通过投影光栅和镜头投影到被测物体表面形成栅线,栅线受表面离面位移调制产生畸变,畸变的栅线通过成像镜头成像到参考光栅上,形成云纹,由CCD相机记录,通过分析云纹条纹图像的位相变化计算离面位移。本发明可以根据测试需求灵活调整系统的测量面积、分辨率、测量范围,即使进行大面积物体的测试时也具有很高的分辨率与精度。而且本发明测量系统的自动化程度高,采集的图像经由计算机后期处理,可实现快速批量化测量。此外,整套系统抗外界环境干扰强,适于进行现场测试。

著录项

  • 公开/公告号CN105841620B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN201610164222.6

  • 发明设计人 陈巨兵;姚骏;唐颖;周轶昊;

    申请日2016-03-22

  • 分类号

  • 代理机构上海交达专利事务所;

  • 代理人王毓理

  • 地址 200240 上海市闵行区东川路800号

  • 入库时间 2022-08-23 10:24:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-25

    授权

    授权

  • 2016-09-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20160322

    实质审查的生效

  • 2016-09-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20160322

    实质审查的生效

  • 2016-08-10

    公开

    公开

  • 2016-08-10

    公开

    公开

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