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一种亮场扫描设备自动定义扫描区域的检测方法

摘要

一种亮场扫描设备自动定义扫描区域的检测方法,包括:步骤S1:利用亮场扫描设备的光学系统对芯片内的不同区域进行亮度数字化,获得针对不同区域之相应的灰阶值;步骤S2:根据不同区域之相应的灰阶值作出定义,并反馈至亮场扫描设备;步骤S3:亮场扫描设备对整个芯片进行光学扫描,且进行亮度数字化,并根据定义作出判断,自动界定芯片中的类似灰阶值的区域。本发明亮场扫描设备自动定义扫描区域的检测方法不仅操作简单,自动归类,而且有效的减少了人工操作带来的错误,提高了生产效率和准确度,值得推广应用。

著录项

  • 公开/公告号CN105931976B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201610355214.X

  • 发明设计人 袁增艺;龙吟;倪棋梁;陈宏璘;

    申请日2016-05-25

  • 分类号

  • 代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人智云

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号

  • 入库时间 2022-08-23 10:24:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-04

    授权

    授权

  • 2016-10-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/66 申请日:20160525

    实质审查的生效

  • 2016-10-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20160525

    实质审查的生效

  • 2016-09-07

    公开

    公开

  • 2016-09-07

    公开

    公开

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