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一种综合孔径微波辐射计联合校正方法

摘要

本发明提供了一种综合孔径微波辐射计联合校正方法,包括:(1)选择最短基线作为冗余基线,构造所有相关的定标方程;(2)选定少许接收机单元作为内部相干噪声注入单元,通过噪声注入校正方法获得其幅度和相位误差,并构造与这些噪声注入单元相关的定标方程;(3)联立(1)和(2)的所有定标方程,构造一个基于冗余空间和内部相干噪声注入的联合定标方程组;(4)求解(3)构造的联合定标方法组,获得所有接收机的幅度和相位误差、以及天线臂的异面偏移角;(5)根据步骤(4)获得的幅度和相位误差、以及天线臂的异面偏移角,校正测量的可见度函数,采用亮温反演方法获得校正的亮温图像。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-25

    授权

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  • 2016-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R35/00 申请日:20160202

    实质审查的生效

  • 2016-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 35/00 申请日:20160202

    实质审查的生效

  • 2016-07-06

    公开

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  • 2016-07-06

    公开

    公开

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