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椭偏仪测量超薄膜层的精度提升方法和装置

摘要

一种提升椭偏仪测量超薄膜层精度的装置,包括直角三棱镜、平凸球面透镜、超薄膜层和玻璃基底。通过在椭偏仪中引入Otto结构激发表面等离子体共振,利用微米尺度光束测试分析椭偏参数随入射波长、入射角度、空气隙厚度的变化曲线,拟合椭偏参数曲线获得超薄膜层的厚度和光学常数。表面等离子体共振对膜层光学常数非常敏感,椭偏技术可以同时获得Ψ和Δ,两者相结合因此可以提升椭偏测试精度。

著录项

  • 公开/公告号CN106403830B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201610852448.5

  • 申请日2016-09-26

  • 分类号G01B11/06(20060101);G01M11/02(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯;张宁展

  • 地址 201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 10:21:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-20

    授权

    授权

  • 2017-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 申请日:20160926

    实质审查的生效

  • 2017-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20160926

    实质审查的生效

  • 2017-02-15

    公开

    公开

  • 2017-02-15

    公开

    公开

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