首页> 中国专利> 在单光子发射计算机断层扫描中利用多发射能量来校准

在单光子发射计算机断层扫描中利用多发射能量来校准

摘要

为了针对定量SPECT的校准(24),多能量发射源(11)用于校准。基于来自多能量发射源的检测,在不同的发射能量下确定平面灵敏性和/或均匀性。为了估计(32)放射性浓度,基于在不同发射能量下的测量(26)的灵敏性和/或均匀性增加准确性。多能量发射源(11)可以可替换地或附加地用于校准(40)剂量校准器(15)。

著录项

  • 公开/公告号CN106461791B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美国西门子医疗解决公司;

    申请/专利号CN201580030870.6

  • 发明设计人 M.巴塔查雅;

    申请日2015-06-12

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人叶菲

  • 地址 美国宾夕法尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 10:21:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-07

    授权

    授权

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/164 申请日:20150612

    实质审查的生效

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/164 申请日:20150612

    实质审查的生效

  • 2017-02-22

    公开

    公开

  • 2017-02-22

    公开

    公开

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