首页> 中国专利> 平面束X射线照相术方法和装置以及辐射探测器

平面束X射线照相术方法和装置以及辐射探测器

摘要

用于X射线照相术尤其是用于平面束X射线照相术的方法和装置,以及一种探测入射辐射的探测器。在该方法和装置中,其中,由X射线源(60)发射X射线(9),使X射线形成平面束并且透过要成象的目标(62),用探测器(64)来探测透过所述目标(62)的X射线。探测入射辐射的探测器(64)是一个气体平行平板雪崩腔,它包括其间加有产生电场用的电压的电极装置,这将产生由入射辐射释放的初次和二次电离电子的电子-离子雪崩。相对于入射辐射(9)设置探测器(64)的取向以使辐射横向进入第一和第二平行平板之间,且在第一和第二平行平板之间有电场。用至少一个探测器电极装置探测由所述电子-离子雪崩感应的电信号,这一个探测器电极装置包括多个彼此相邻设置的探测器电极单元,每一个探测器电极单元都在与入射辐射基本平行的方向上。在处理电路中处理来自每一探测器电极单元的脉冲,以为与相应探测器电极单元对应的每一象素获得值。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-12-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H05G 1/64 授权公告日:20070207 终止日期:20091119 申请日:19981019

    专利权的终止

  • 2007-02-07

    授权

    授权

  • 2001-02-21

    著录项目变更 变更前: 变更后: 申请日:19981019

    著录项目变更

  • 2000-12-27

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 2000-12-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号