首页> 中国专利> 一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法

一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法

摘要

本发明公开了一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法,所述通用接口包括:微处理器及其外部电路;所述外部电路包括SPI接口、UART接口、IIC接口、GPIO连接口和以太网接口;所述通用接口一端与SPI、UART、IIC、GPIO接口相连接,另一端与对外的总线插座连接;所述以太网接口与所述微处理器的MAC接口相连接。本发明提供的技术方案将嵌入式产品中常用的数字接口统一设计,使用一组简单的规约,实现了通过规约对多种电气通讯接口的读写控制。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-21

    专利权的转移 IPC(主分类):G01R31/26 登记生效日:20200731 变更前: 变更后: 变更前:

    专利申请权、专利权的转移

  • 2020-08-21

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R31/26 变更前: 变更后: 变更前: 变更后: 申请日:20150929

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2018-11-09

    授权

    授权

  • 2018-11-09

    授权

    授权

  • 2016-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20150929

    实质审查的生效

  • 2016-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20150929

    实质审查的生效

  • 2016-09-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20150929

    实质审查的生效

  • 2015-12-23

    公开

    公开

  • 2015-12-23

    公开

    公开

  • 2015-12-23

    公开

    公开

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