首页> 中国专利> 一种基于红外热成像技术的高速位移测量方法及测量装置

一种基于红外热成像技术的高速位移测量方法及测量装置

摘要

本发明提供一种基于红外热成像技术的高速位移测量方法,在摆杆上设置金属块作为发射源,由镜头捕捉其运动轨迹,转化为图像,将金属块标志的热图像特征与背景分离出来,金属块的热图像的运动轨迹就是智能检测仪在打击试样的高速过程中所发生的位移,从而直接、精确地测量出每一个采样时刻内智能检测仪在打击试样的高速位移,更具真实性、可靠性,从而能够计算出每一个采样时刻中金属试样的冲击吸收功。

著录项

  • 公开/公告号CN107843193B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201710809940.9

  • 申请日2017-09-11

  • 分类号

  • 代理机构北京理工大学专利中心;

  • 代理人郭德忠

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2022-08-23 10:19:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-06

    授权

    授权

  • 2018-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20170911

    实质审查的生效

  • 2018-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20170911

    实质审查的生效

  • 2018-03-27

    公开

    公开

  • 2018-03-27

    公开

    公开

  • 2018-03-27

    公开

    公开

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