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太赫兹瞬态热成像检测和层析成像系统及方法

摘要

本发明公开了太赫兹瞬态热成像检测和层析成像系统及方法。系统由控制模块、太赫兹光源、太赫兹镜片组、热像仪、计算机及多个算法模块等组成。采用脉冲或连续太赫兹光束对被检对象进行加热,采用热像仪记录被检对象表面的瞬态温度信号。对不同时刻的热像图进行空间导数变换,检测浅层缺陷;对瞬态温度信号和参考信号进行差分、一阶求导、二阶求导和傅里叶变换等处理,提取最大值时间、峰值时间、分离时间、分离频率、峰值频率等作为特征值;采用特征值进行成像显示,实现缺陷检测;建立特征值与深度的定量关系,对未知缺陷的深度进行定量;利用不同时间范围的温度变化率,实现不同深度范围的层析成像。该发明可应用于无损检测、医学成像等领域。

著录项

  • 公开/公告号CN104764713B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-10-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 何赟泽;

    申请/专利号CN201510157222.9

  • 发明设计人 何赟泽;杨瑞珍;

    申请日2015-04-06

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 410000 湖南省长沙市开福区福元西路199号万国城

  • 入库时间 2022-08-23 10:19:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-23

    授权

    授权

  • 2015-12-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/3586 申请日:20150406

    实质审查的生效

  • 2015-12-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/3586 申请日:20150406

    实质审查的生效

  • 2015-07-08

    公开

    公开

  • 2015-07-08

    公开

    公开

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