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TEM放大率校准方法及用于校准的样品的形成方法

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摘要

一种TEM放大率校准方法及用于放大率校准的样品的形成方法，其中校准方法包括：样品包括：衬底、位于衬底上的至少三层石墨烯层，石墨烯层厚度方向为第一方向；下层的石墨烯层在第二方向具有伸出上层石墨烯层外的凸出部分，顶层石墨烯层和所有凸出部分在第二方向的宽度w

1. TEM放大率校准方法及用于校准的样品的形成方法 [P] . 中国专利： CN105445293B . 2018.09.07
2. 一种TEM室场均匀性自动校准装置和校准方法 [P] . 中国专利： CN113138359A . 2021-07-20
3. Caliberation element for calibrating the magnification ratio of a camera, and a calibration method [P] . 美国专利： US2009185038A1 . 2009-07-23

机译：用于校准照相机的放大率的校准元件和校准方法
4. INFRARED MOISTURE MEASUREMENT DEVICE CALIBRATION SAMPLE, INFRARED MOISTURE MEASUREMENT DEVICE, CALIBRATION SAMPLE CONTAINER, AND CALIBRATION METHOD USING CALIBRATION SAMPLE [P] . 日本专利： JP2015132505A . 2015-07-23

机译：红外水分测量装置校准样品，红外水分测量装置，校准样品容器以及使用校准样品的校准方法
5. Being the calibration sample which is used for the calibration sample for fluorescent x-ray analysis and the calibration [P] . 日本专利： JP4296907B2 . 2009-07-15

机译：是用于荧光X射线分析和校准的校准样品的校准样品