光盘驱动设备、测量光盘倾斜的方法及校正光盘倾斜的方法

摘要

在光盘(2)的测量位置(P(r，φ))测量倾斜(θ(r，φ))。将枢轴物镜(34)带到第一聚焦测量位置，以便在第一定位点(P1(r-Δr1，φ))聚焦光束(32)，该第一定位点具有与所述测量位置(P(r，φ))相同的角坐标φ并具有与所述测量位置Δr1的小径向距离。将物镜被带到第二聚焦测量位置，以便在第二定位点(P2(r+Δr2，φ))聚焦光束，该第二定位点具有与所述测量位置(P(r，φ))相同的角坐标φ并具有与所述测量位置Δr2的小径向距离。其中，所述第一和第二定位点位于所述测量位置的相对两侧。可以从所述物镜的所述两个聚焦测量位置的坐标计算出所述测量位置的倾斜。